SNEC 2012系列报道：BT Imaging为准单晶硅片分级推出PL检测设备
pv-tech 2020年8月11日
摘要:BT Imaging日前发布了新一代光致发光(PL)硅片质量检测系统iLS-W2，在线准单晶晶粒检测系统iS-G1，与iLS-W2或iS-G1配套的升级自动化套件iQ，以及用于自动分检硅片的集成设备Q...
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